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  • YC-TS2-100 YC-TS2-200两箱式冷热冲击试验箱芯片半导体高低温

    主要用途 用于测试各种材料在瞬间下经高温及低温的连续环境下忍受的程度,得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。主要应用于半导体芯片、科研院校、质检、新能源、光电通讯、航天军工、汽车行业、LCD显示、医疗等科技产业。

    更新时间:2026-03-13
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  • 两箱冷热冲击试验箱(水平冲击)

    两箱冷热冲击试验箱(水平冲击),采用水平吊篮移动设计,在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷,在有些情况下也可用于环境 应力筛选,剔除产品的早期故障。

    更新时间:2026-03-06
    浏览次数:141
  • 两箱式冷热冲击试验箱

    两箱式冷热冲击试验箱测试时样品放在吊篮里,做高温测试时吊篮提到高温箱,反之做低温试验。

    更新时间:2026-04-29
    浏览次数:1417
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